光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過(guò)樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量，它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強(qiáng)度，I0為發(fā)射光強(qiáng)度，T為透射比，L為光通過(guò)原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。光譜分析儀的屏幕顯示測(cè)量條件、標(biāo)記值、其它數(shù)據(jù)以及測(cè)量波形。屏幕各部分的名稱(chēng)顯示如下：
1、光譜譜寬的測(cè)量
譜寬即光譜的帶寬，使用光譜分析儀可以測(cè)量LD、發(fā)光二極管的譜寬。在光譜的譜寬測(cè)量時(shí)，要特別注意光譜分析儀系統(tǒng)分辨率的選擇，即原理上光譜分析儀的分辨率應(yīng)當(dāng)小于被測(cè)信號(hào)譜寬的1/10.，一般推薦設(shè)置為至少小于被測(cè)信號(hào)譜寬的1/5。
在實(shí)際的測(cè)量中，為了能夠準(zhǔn)確測(cè)量數(shù)據(jù)，一般選擇分辨率帶寬為0.1nm以下。分辨率帶寬RES位于SETUP菜單中的一項(xiàng)，直接輸入所要設(shè)定的分辨率帶寬的大小即可。當(dāng)選擇的分辨率帶寬不同時(shí)，從光譜分析儀觀察到的光譜形狀有很大的不同，并且所測(cè)量得到的譜寬大小的不同。
在觀察光譜譜寬的同時(shí)，也可以通過(guò)光譜分析儀讀出光譜的中心頻率、帶寬、峰值功率和邊模抑制比等參數(shù)。同時(shí)可以啟動(dòng)MARKER菜單，進(jìn)行相應(yīng)的標(biāo)識(shí)，以方便量取所需要測(cè)試的參數(shù)值。
2、邊模抑制比的測(cè)量
邊模抑制比（Side-ModeSuppressionRaTIo，縮寫(xiě)為SMSR），SMSR表示峰值能級(jí)與橫模能級(jí)之間的能級(jí)差值。
一般測(cè)量邊模抑制比時(shí)，需要配合使用MARKER菜單和ANALYSIS菜單中相應(yīng)的鍵。用MARKER菜單對(duì)主波峰值和高的副波峰進(jìn)行標(biāo)識(shí)，讀取兩者的峰值功率值。邊模抑制比為高峰與次高峰之間的能級(jí)差?？梢酝ㄟ^(guò)ANALYSIS菜單中相應(yīng)的子選項(xiàng)計(jì)算得到后的值。
3、增益的測(cè)量
在進(jìn)行OA板或光放大器模塊測(cè)試的時(shí)候，需要測(cè)試增益參數(shù)（Gain）。增益定義為輸出信號(hào)功率outP與輸入信號(hào)功率inP之比。增益的一般表達(dá)式如式（1）所示：
以上的公式使用于以mw為單位的情況。若兩者單位為dBm，則G的值為兩者之差。
在進(jìn)行增益的測(cè)量時(shí)，需要用到TRACE菜單中的相關(guān)選項(xiàng)。首先將TraceA設(shè)置為未接放大器之前的輸入光，按下FixA；再將TraceB設(shè)置為經(jīng)過(guò)光纖放大器之后的輸出光，按下FixB;取兩者的峰值功率，即可計(jì)算出。
