光譜分析儀通過測量光波的重要波長、功率和噪聲特性，將頻譜分析的原理擴(kuò)展到光學(xué)領(lǐng)域。隨著光纖網(wǎng)絡(luò)和激光應(yīng)用的擴(kuò)展，光學(xué)測試解決方案和實(shí)踐也在不斷發(fā)展，以跟上密集波分復(fù)用、緊縮的信道間距以及大量新光源和傳輸協(xié)議的步伐。通常影響測試曲線顯示效果或測試結(jié)果的參數(shù)設(shè)置可以從以下參數(shù)設(shè)置去考慮：
1、儀表默認(rèn)設(shè)置大多數(shù)光譜分析儀的使用者習(xí)慣采用儀表的默認(rèn)設(shè)置來對被測件進(jìn)行測試，這本來是無可厚非的，但是，請務(wù)必注意各個廠家儀表的默認(rèn)/初始化設(shè)置后的測試條件可能各不相同，如RES、SPAN、采樣點(diǎn)數(shù)、VBW/模式、波長顯示條件（真空/空氣）等，只有在這些基本的測試條件相同/一致的情況下，才能得到相同的測試曲線或結(jié)果。
2、橫軸設(shè)置起始/截止波長或者中心波長/SPAN橫軸的設(shè)置確定了儀表的波長掃描范圍，如果兩種儀表掃描的波長范圍不同，在屏幕上的顯示曲線位置或形狀自然會有差別。
3、縱軸/電平設(shè)置縱軸的設(shè)置可以信號顯示幅度做縮放處理，比較兩種儀表的顯示時請保持參考電平和刻度（dB/格）相同，否則會讓觀察者有不同的直觀感受。
4、分辨率RES設(shè)置光譜分析儀的RES設(shè)置，直接與儀表顯示的標(biāo)記讀數(shù)值相關(guān)，所以，不同廠家的儀表測試同一被測件時RES設(shè)置相同。通常情況下，RES選擇越小，波長分辨率越高，掃描速度越慢。所以不一定說RES越小就越好，滿足被測件的測試要求就夠了。
5、VBW/模式設(shè)置VBW/模式選擇與顯示曲線的噪聲和掃描時間相關(guān)，一般來說，VBW越小，高頻噪聲濾除越少，曲線越光滑，但同時掃描時間越長，這個需要用戶根據(jù)自己的需要來折中選擇。
6、平均與平滑平均和平滑有一個共同的特點(diǎn)就是可以改善顯示曲線的顯示光滑度，不同的是平均會改變標(biāo)記的讀數(shù)值，而平滑只會改變顯示曲線的平滑度，不影響標(biāo)記的讀數(shù)值。所以，在研究機(jī)構(gòu)做研究實(shí)驗(yàn)時，通常為了得到比較美觀的測試曲線顯示，可能會對曲線做平滑處理。
